Características Clave
Detalles
Opciones de modelo

Características Clave

  • Hoja de datos
  • Parámetros de Prueba: L/C/R/Z/Y/DCR/Q/D/θ.
  • Frecuencias de Prueba: 75kHz~30MHz / 1kHz~10MHz / 60Hz~5MHz.
  • Niveles de Voltaje de Prueba: 10mV ~ 5V.
  • Exactitud Básica: 0.1%.
  • Mediciones de alta velocidad de 7ms.
  • 3 Modos de impedancia de salida.
  • Función para monitorear la señal de prueba.
  • Función de comparación y clasificación en contenedor.
  • Funciones de Compensación Abierto/Corto y corrección de carga.
  • Diseño con unidad de medición y pantalla desprendible.
  • Interfaz de comunicación Handler, RS-232 estándar, almacenamiento USB e interfaz de control para fuente de corriente Bias externa.
  • Interfaz GPIB y LAN Opcional.

    Descripción

    La serie Chroma 11050 de Medidores LCR de alta frecuencia es un instrumento para pruebas de precisión diseñado para medir con exactitud y evaluar componentes pasivos a altas velocidades. Sus capacidades de medición cubren los parámetros primarios y secundarios requeridos para probar inductancia, capacitancia, resistencia, factor de calidad y factor de perdida de componentes pasivos. El medidor LCR de alta frecuencia tiene un extenso rango de frecuencia de prueba 75kHz~30MHz/1kHz~10MHz/60Hz~5MHz adecuado para analizar las características de los componentes bajo diferentes frecuencias de prueba. Su exactitud básica de 0.1% provee resultados estables y altamente confiables. Una velocidad de medición rápida de 7ms incrementa exitosamente la productividad cuando se utiliza en un ambiente automatizado.

Adicionalmente de las excelentes características de medición encontradas en otros medidores LCR Chroma, la serie 11050 provee útiles funciones adicionales. Tiene 3 modos de impedancia de salida para satisfacer demandas para medir y trabajar con otros instrumentos. Su versátil pantalla digital puede ser configurada para encajar mejor con la resolución de prueba real; además, la función para monitorear la señal de prueba muestra el voltaje y la corriente que realmente está presente en el dispositivo bajo prueba. Los ajustes de tiempo del retraso de disparo, la medición del retraso y el numero promedio de tiempos permiten a las mediciones una transición perfecta a un ambiente de prueba automatizado proporcionando resultados precisos dentro de un limitado tiempo de prueba.

El diseño desprendido de la serie 11050 Chroma usa un sistema con doble CPU para procesar la prueba y la pantalla individualmente. Esto no solo incrementa la velocidad

de prueba sino que también acorta la longitud de los cables de prueba cuando se usan con máquinas automatizadas para mejorar la precisión en mediciones de alta frecuencia.

La serie 11050 de Medidores LCR de alta frecuencia Chroma tiene múltiples opciones de interfaz remota. De manera estándar incluyen interfaces Handler y RS-232 para control de software o hardware de las condiciones de prueba, mediciones con señales de disparo, juicio a resultados de prueba y recolección de datos medidos. El puerto USB estándar guarda las configuraciones del dispositivo y controla la salida de una fuente de corriente bias de CD externa. Interfaces remotas opcionales GPIB y Ethernet también están disponibles para el control por software.

Debido al diseño delgado y de bajo consumo de potencia de dispositivos de comunicación electrónica portátil modernos, la frecuencia de prueba requerida para inductores de potencia se está incrementando. La resistencia equivalente en serie de los componentes se ha vuelvo un indicador crítico para identificar si son buenos o malos. El capacitor seguidor juega un rol importante en la confiabilidad general del circuito y debe funcionar adecuadamente bajo arias condiciones de voltaje transitorio; la resistencia equivalente en serie debe permanecer en un nivel muy bajo cuando se está operando en altas frecuencias. La serie Chroma 11050 está enfocada en probar componentes pasivos a altas frecuencias y cuenta con capacidades clave de mediciones mejoradas durante pruebas de investigación y diseño para simular la aplicación del usuario de la manera más cercana a la realidad. La precisión mejorada de mediciones en baja impedancia demuestra la utilidad de la serie Chroma 11050 en aplicaciones de prueba de alta frecuencia.

La serie 11050 de Medidores LCR de alta frecuencia Chroma fue diseñada con muchas mejoras y características clave que la hacen la mejor opción cuando se trata de cumplir demandas de análisis de caracterización en componentes modernos y pruebas de alta velocidad para líneas de producción automatizadas o inspección de calidad de entrada/salida.

Modos de Prueba – Basic

Modo LCR

Modos de Prueba – Multipuntos

Modo LCRZ
El modo LCRZ está diseñado para probar parámetros dependientes de la frecuencia y dependientes del voltaje. La impedancia en capacitores e inductores y la resistencia equivalente en serie tienden a ser afectadas por cambios en la frecuencia. Y debido a las características dieléctricas, la capacitancia de un capacitor cerámico es sensible al voltaje de prueba. Con el modo de prueba LCRZ, es fácil evaluar estas características.

Modo “Bias Scan”
El modo “Bias Scan” está diseñado para probar la saturación en componentes magnéticos. La inductancia y la impedancia de un inductor caen con el incremento de la corriente Bias. El LCR de la serie 11050 cuenta con una fuente de corriente Bias integrada con sus capacidades de medidor LCR de alta frecuencia, con lo que puede controlar el ajuste de corriente y la salida. El modo “Bias Scan” es útil para programar el proceso de prueba.

Modos de Prueba– Analizador

Modo “Parameter Sweep”
El modo “Parameter Sweep” está diseñado para graficar varias curvas características. Hasta 401 puntos graficados hacen que la curva sea más suave. Los usuarios pueden utilizar la función de almacenamiento/llamado de la curva de referencia, para comparar fácilmente dos curvas. Si hay necesidad de ver las mediciones más a detalle, solo enciende el cursor o cambia al modo de tabla.

Modos de Prueba – Automatización

Modo “Dual Frequency”
El modo “Dual Frequency” está diseñado para calcular el porcentaje de variación entre mediciones a dos valores de frecuencia. El resultado calculado puede mostrar las características relativas a la calidad. Por ejemplo, el porcentaje de variación de la inductancia puede aplicarse para evaluar la perdida de potencia en el núcleo a altas frecuencias.

Modo “Bias Compare”
El modo “Bias Compare” está diseñado para calcular el porcentaje de caída en la inductancia en un componente magnético mientras la corriente Bias fluye a través del mismo. Comparado con el método de juicio de un valor absoluto general, el porcentaje de caída es más efectico para separar inductores con características de saturación deficiente.

Modelo Descripción
11050 Medidor LCR 1kHz ~ 10MHz
11050 -5m Medidor LCR 60Hz ~ 5MHz
11050-30M Medidor LCR 75kHz ~ 30MHz
Accesorios
A110501 Fixtura de prueba SMD de 4 terminales
A110211 Fixtura de Prueba (DIP)
A110234 Cables de Prueba (1m)
A133510 Interfaz LAN & USB-H
A133509 Interfaz GPIB & Handler

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