Características Clave
Descripción
Opciones de modelo
Aplicaciones

Características Clave

  • Hoja de datos
  • Voltaje para prueba de impulso 10V ~ 1000V, con una resolución de 0.25 V
  • Alta frecuencia de muestreo de 200 MHz, 10-bits
  • Prueba de inductancia (0.1uH ~ 100uH)
  • Función de comprobación de contacto de inductancia
  • Función de compensación para tensión diferencial de inductancia
  • Función de análisis de tensión de ruptura
  • Rango de baja tensión para aumentar la sensibilidad del análisis de forma de onda (32V/64V/128V/256V/512V/1024V)
  • Puerto USB para almacenar de forma de onda y captura de pantalla
  • Soporta múltiples idiomas y cuenta con pantalla gráfica a color
  • Interfaces LAN, USB y RS232 estándar

Descripción

El probador de embobinados 19301A combinada con la tecnología de medición de inductancia (alta y baja) tiene tensiones máximas de prueba de hasta 1000V para la prueba de impulso y una frecuencia de muestreo de alta velocidad de 200 MHz que satisface los requisitos de prueba de una amplia gama de inductores de potencia en el rango de 0.1uH a 100uH. Las funciones integradas de comparación como tamaño del área, área diferencial, FLUTTER y Laplacian lo convierten en una forma efectiva para inspeccionar las bobinas y detectar bajo aislamiento.

La unidad analiza la forma de onda a alta velocidad a través de un proceso de muestreo sofisticado para detectar con éxito bobinas con aislamiento bajo y proporciona ensayos de rigidez dieléctrica en devanados y calidad núcleo magnético.

El Chroma 19301A puede ser utilizado en prueba de componentes de baja inductancia de hasta un mínimo de 0.1 uH. Las funciones incluidas para las pruebas de baja inductancia incluyen pruebas a 4 hilos, verificación de contactos, verificación de inductancia y compensación de voltaje lo cual evita errores resultantes de la variación de inductancia del DBP (dispositivo bajo prueba) o de la inductancia equivalente del cableado

Su pantalla colorida y la función de captura de pantalla permiten al usuario almacenar las formas de onda a través del puerto USB en el panel frontal. El 19301A es perfecto para producción así como desarrollo e investigación y aseguramiento de calidad.

Tecnología de medición

Introducción y Teoría de la prueba de impulso

La prueba de impulso es una técnica no destructiva donde se aplica un pulso de bajo voltaje y alta velocidad, el cual agrega un voltaje de impulso en un capacitor de oscilación (Cs) de la bobina en paralelo de tal manera que el capacitor en paralelo y la bobina generen una oscilación RLC.

La atenuación de la oscilación se puede observar para darse cuenta del estado interno del aislamiento de la bobina, su inductancia y su capacitancia paralela (Cw) (Ver imagen: Diagrama de Circuito de Prueba equivalente). Después, analiza y compara la forma de onda equivalente de una pieza bajo prueba para juzgarla como buena o mala. En productos embobinados, la función de prueba de impulso ayuda a descubrir defectos potenciales – tales como cortos entre sus capas, soldadura pobre de terminales y aislamiento pobre dentro de la bobina tan temprano cómo es posible.

Diagrama de prueba del circuito equivalente

4 Modos de Discriminación de Formas de Onda

Tamaño de Área

Esto compara cada tamaño de área de las formas de onda, tanto de la bobina principal como la bobina de muestra bajo prueba en una zona intencional determinada

Tamaño del área

Área diferencial

Esto calcula el área de la porción diferencial de las formas de onda entre la bobina maestra y la bobina bajo prueba en una zona intencional determinada

Tamaño diferencial

Valor Flutter

Flutter y Valores Laplacian

Esta prueba utiliza la diferenciación de primer orden para calcular el valor total de cambio. Esto puede detectar eficazmente la forma de onda de mayor tiempo causada por una inductancia muy baja o por la presencia de una descarga eléctrica.

Valor Laplacian

Utiliza la diferenciación de segundo orden para calcular el valor máximo de cambio. Esto puede detectar efectivamente una discontinuidad en la forma de onda causada por una descarga eléctrica.

Valores de Flutter y Laplacian

Tecnología para prueba de Impulso en baja inductancia

El equipo Chroma 19301A fue desarrollado específicamente para probar componentes embobinados con baja inductancia. La prueba para cortos entre las capas puede ser usada en productos con un rango de inductancia entre 0.1uH y 100uH. La prueba para un dispositivo bajo prueba con baja inductancia es distinta a la prueba a un producto general, ya que un dispositivo con baja inductancia se ve afectado por la inductancia equivalente del cableado en el área de pruebas, lo cual hace que el voltaje de prueba se distribuya entre el cableado haciendo que el voltaje en el dispositivo bajo pruebas sea menor que el voltaje programado. Además, el voltaje de operación de un choke de potencia con baja inductancia es usado para bajo voltaje, en consecuencia el voltaje durante la prueba de impulso es menor que con productos con rangos de inductancias más comunes.

Bajo Rango de Voltaje

Productos con baja inductancia, como chokes de potencia en teléfonos inteligentes, tienen un voltaje de operación menor y son más pequeñas en tamaño, haciendo que los voltajes de prueba sean relativamente bajos. Además, el equipo de medición para la prueba de impulso en baja inductancia requiere un rango de bajo voltaje para el análisis de la forma de onda. El equipo Chroma 19301A cuenta con los siguientes 6 rangos de voltaje: 32V, 64V, 128V, 256V, 512V y 1024V, en conjunto con el más bajo reconocimiento de voltaje, 0.25V. El voltaje de prueba mínimo puede empezar desde 10V, lo cual hace posible incrementar la identificación de la forma de onda.

Pruebas a Productos con Inductancia Alta/Baja

Además de realizar pruebas a productos con baja inductancia, el equipo Chroma 19301A también es capaz de probar productos con alta inductancia, dentro del rango de 0.1uH ~ 100uH. La función interna de detección de inductancia es muy conveniente para los usuarios, ya que permite al equipo aprender la inductancia del dispositivo bajo prueba, cambiar al rango adecuando para realizar la prueba y realizar comparaciones con la forma de onda apropiada.

Contar con un probador de cortos entre una sola capa combinado con un probador para productos con inductancia Alta/Baja como el equipo Chroma 19301A no solo reduce el tiempo de prueba de un equipo a otro cuando se desplaza de una línea de producción a otra, sino que también reduce los gastos de la fábrica.

Probador de Impulso para Embobinados Chroma 19301A

Probadores de Impulso para Embobinados Comunes

Prueba a 4-hilos

Debido a que la detección de voltaje de un dispositivo de prueba para cortos entre capas de 2-hilos está dentro del lazo de corriente, el voltaje medido es bastante diferente al del dispositivo bajo prueba para pruebas en baja inductancia. El equipo Chroma 19301A usa detección a 4-hilos con cable coaxial doble para mejorar importantemente la precisión del voltaje para resultados de pruebas correctos.

Voltaje de Ruptura (B.D.V)

La función de prueba de voltaje de ruptura del equipo Chroma 19301A usa la tasa de crecimiento en voltaje para detectar si el tamaño del Área o el valor Laplacian están sobre el limite programado y prueban el voltaje de ruptura de la bobina configurando el voltaje de inicio/fin y el número de pasos para llegar a ese voltaje. Ingenieros de investigación y diseño pueden hacer análisis de producto e investigaciones para reducir cualquier punto débil dentro de la bobina por medio de esta función.

Verificación de Contacto (Patentada)

Para evitar una pobre conexión entre los contactos o una condición de circuito abierto que pudiera crear un efecto de arco en los pines de la fixtura debido al voltaje interno máximo a la salida que a su vez pudiera llegar a dañar el dispositivo bajo prueba o los pines de la fixtura, el equipo Chroma 19301A realiza una verificación de contactos antes de empezar las pruebas para prolongar el tiempo de vida de los pines en la fixtura.

Probador de Impulso para Embobinados

Compensación de Voltaje (Patentada)

Para pruebas a bobinas con alta inductancia, como un transformador, la inductancia equivalente debido al cableado es relativamente pequeña. Sin embargo, cuando se prueba productos con baja inductancia (tal como 0.2uH), la cantidad de inductancia equivalente debido al cableado puede afectar el voltaje en el dispositivo bajo prueba. Reducir el impacto del cableado es una de las principales preocupaciones en el diseño – especialmente para pruebas automatizadas. Una cantidad excesiva de impedancia debido a los cables causa que el voltaje se distribuya en el cableado de pruebas cuando se realiza una prueba de baja inductancia, y esto podría no ser detectado ya que el voltaje es menor al valor programado.

Probador de Impulso para Embobinados
Lx: Inductancia del dispositivo bajo prueba
Lw: Inductancia del cableado equivalente.

Para aplicaciones comunes, el voltaje (Vx) de la inductancia del dispositivo bajo prueba (Lx) en los extremos distribuirá el voltaje en serie con la inductancia del cableado (Li y Lw). La fórmula usada para calcular esto se muestra arriba.

Es más, la tolerancia especificada para la inductancia del producto puede ser de hasta 30%, en consecuencia la diferencia de voltaje en la terminal misma es aún más obvia cuando la inductancia del dispositivo bajo prueba cambia en pruebas a baja inductancia.

Esto puede causar que la prueba de detección de Área falle, o que el voltaje de prueba en el producto no cumpla con la especificación. El equipo Chroma 19301A cuenta con una función de compensación de voltaje diferencial para inductancia que puede resolver estos problemas y reducir juicios erróneos que sean causados por la diferencia de voltaje a raíz del error en la inductancia.

Sin la función de voltaje diferencial para inductancia

Con la función de voltaje diferencial para inductancia

Modelo Descripción
19301A Probador de Impulso para Embobinados (Baja Inductancia)
Accesorios
A193001 Kit de prueba para Choke SMD
A193002 Cable de prueba de 1m + Conector de prueba
A193003 Cable de prueba de 1m con terminales abiertas</td >
A193004 Cable de prueba de 1m BNC a BNC (incluye. 1 conectores macho BNC)

Aplicación para Prueba Automática de Alta Velocidad.

Productos de baja inductancia implementados en teléfonos inteligentes, tabletas o computadoras tienden a ser delgados y ligeros en apariencia. Ya que para la producción de inductores se adoptan sistemas de empaquetado y pruebas automáticos, un equipo de pruebas de alta velocidad es necesario para mantener la producción de alta velocidad. Para cumplir con esta aplicación de pruebas, el equipo Chroma 19301A está equipado con funciones de prueba a 4-hilos de alta velocidad con doble conexión coaxial, lo cual reduce el impacto de la longitud en el cableado y trabaja con máquinas de pruebas de capas automáticas para generar mayor eficiencia en la línea de producción.

Fixtura de prueba para Chokes SMD de Potencia.

El tamaño de chokes de potencia SMD con baja inductancia es bastante pequeño, por lo que para facilitar las pruebas para errores de cortos entre las capas, Chroma ha desarrollado una fixtura de prueba para chokes SMD de potencia con 4 lados (patentada) que trabaja con la función de compensación de diferencia de voltaje del equipo 19301A para apoyar al desarrollador de producto o al personal de calidad a mejorar la eficiencia de la prueba.

Fixtura de prueba para Chokes SMD de Potencia

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